Description du produit 
Co-pilote : Nicolas FISCHER - LNE
Lieu : LNE - 1, rue Gaston Boissier 75724 PARIS
Machine learning, deep learning, intelligence artificielle, digitalisation des données et des outils, autant de concepts qui s’installent dans notre quotidien tout en paraissant éloignés des activités propres à la métrologie. Et pourtant !
Le Laboratoire National de Métrologie et d’Essais et le Collège Français de Métrologie vous proposent dans une collaboration inédite une Journée Technique pour comprendre les liens entre IA, digitalisation et métrologie.
Au programme : nos experts vous présenteront l’importance de la structuration des données de mesure qui doit permettre de maîtriser la fiabilité des données concernées et d’aller plus loin dans leur exploitation. Nous parlerons du Certificat d’Etalonnage Numérique : de quoi s’agit-il, quel est son intérêt, comment le déployer. Nous aborderons également des cas concrets d’utilisation d’IA au service de la métrologie et inversement de la métrologie au service de l’IA. En particulier nous aurons une intervention sur l’estimation des incertitudes de mesure pour qualifier des équipements intégrant de l’IA. Enfin nous clôturerons la journée par une discussion ouverte sur les liens existants ou à créer entre métrologues et data scientists.
Cette journée, nouvelle et prospective, s’adresse à tous les métrologues qui s’intéressent à l’impact de l’intelligence artificielle et de la digitalisation sur nos métiers ainsi qu’à l’apport que la métrologie peut avoir pour aider au déploiement de ces nouveaux outils.
